Метод фотометричного дзеркального еліпсоїда обертання для дослідження шосткості поверхні

Abstract

Розглянутий метод фотометричного дзеркального еліпсоїда обертання для дослідження шорсткої поверхні. Проаналізовані особливості поширення оптичного випромінювання в еліпсоїді та вплив аберації кома на формування зображення. Обґрунтована конструкція та параметри дзеркального еліпсоїда обертання, що дозволило побудувати фотометричну головку, котра дозволяє реєструвати все відбите досліджуваним зразком оптичне випромінювання. Проведені характеристичні дослідження стальної та дюралюмінієвої шорстких поверхонь та окреслені основні напрямки для подальших досліджень.

Рассмотрен метод фотометрического зеркального эллипсоида вращения для исследования шероховатой поверхности. Проанализированы особенности распространения оптического излучения в эллипсоиде и влияние аберрации кома на формирование изображения. Обоснована конструкция и параметры зеркального эллипсоида вращения, что позволило построить фотометрическую головку, которая позволяет регистрировать все отраженное исследуемым образцом оптическое излучение. Проведены характеристические исследования стальной и дюралюминиевой шероховатых поверхностей и очерчены основные направления дальнейших исследований.

The method of photometric mirror ellipsoid of revolution is considered for research of rough surface. The features of distribution of optical radiation in an ellipsoid and influence of aberration of coma are analyzed on forming of image. A construction and parameters of mirror ellipsoid of revolution are reasonable, that allowed to build a photometric head that allows to register all reflected by the investigated standard optical radiation. Characteristic researches a