Вихрострумовий дефектоскоп з низькою чутливістю до шорсткості поверхні об'єкта контролю

Abstract

Проаналізовано практичні особливості конструкцій і варіанти розташування котушок накладних ортогональних вихрострумових перетворювачів. Описана структурна схема вихрострумового дефектоскопу, управління якою здійснюється за допомогою мікроконтролера. В якості керуючого мікроконтролера використана мікросхема ATmega32 фірми Atmel Corporation. Розроблено та виготовлено макет вихрострумового дефектоскопу. Випробування показали, що поверхневі дефекти у вигляді тріщин виявляються з мінімальною чутливістю до шорсткості поверхні об'єкта контролю та ідентифікуються по глибині.

Проанализированы практические особенности конструкций и варианты расположения катушек накладных ортогональных вихретоковых преобразователей. Описана структурная схема вихретокового дефектоскопа, управление которой осуществляется с помощью микроконтроллера. В качестве управляющего микроконтроллера использована микросхема ATmega32 фирмы Atmel Corporation. Разработан и изготовлен макет вихретокового дефектоскопа. Испытания показали, что поверхностные дефекты в виде трещин обнаруживаются с минимальной чувствительностью к шероховатости поверхности объекта контроля и идентифицируются по глубине.

The practical design features and options for the location of overhead coils orthogonal eddy current transducers are analyzed. Described block chart of eddy current flaw detector, which is controlled by a microcontroller. As manager of the microcontroller chip used ATmega32 firm Atmel Corporation. Developed and manufactured to the layout of eddy current flaw detector. Tests have shown that surface defects such as cracks are detected with minimal sensitivity to roughness control object and are identified in depth.