Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/4239
Название: Біспектральний телевізійний прилад контролю високотемпературних технологій
Авторы: Маркін, М. О.
Порєв, В. А.
Ключевые слова: вимірювання температури
телевізійний пірометр
світлоелектричний перетворювач
моноспектральний сигнал
фотон
кремній
роздільна здатність
измерение температуры
телевизионный пирометр
світлоелектричний преобразователь
моноспектральный сигнал
фотон
кремний
разрешающая способность
measuring of temperature
televisional pyrometer
light-electric transformer
monospectral signal
photon
silicon
discriminability
Дата публикации: 2009
Издательство: ІФНТУНГ
Библиографическое описание: Біспектральний телевізійний прилад контролю високотемпературних технологій / М. О. Маркін, В. А. Порєв // Методи та прилади контролю якості. - 2009. - № 23. - С. 102-105.
Краткий осмотр (реферат): Розглянуті методичні питання використання телевізійних засобів для вимірювання температури та особливості реалізації схем формування моноспектральних сигналів в мультиспектральних телевізійних пірометрах. Запропоноване нове технічне рішення біспектрального телевізійного пірометра, яке базується на використанні фізичної залежності пропускання фотонів в кремнії від довжини хвилі випромінення.
Рассмотрены методические вопросы использования телевизионных средств измерения температуры и особенности реализации схем формирования моноспектральных сигналов в мультиспектральных телевизионных пирометрах. Предложено новое техническое решение биспектрального телевизионного пирометра, базирующееся на использовании физической зависимости пропускания фотонов в кремнии от длины волны излучателя.
The article deals with methodic questions concerning the usage of television measurement devices and the specifics of the implementation of the narrowband signal formation in the multiband television pyrometers. New technical solution has been proposed for the two-band television pyrometer, which is based on using the physical relation between photonic translucency of silicon and the source wavelength.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/4239
ISSN: 1993-9981
Располагается в коллекциях:Методи та прилади контролю якості - 2009 - №23

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
2193p.pdf447.25 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики  Google Scholar


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.