Skip navigation
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/4239
Назва: Біспектральний телевізійний прилад контролю високотемпературних технологій
Автори: Маркін, М. О.
Порєв, В. А.
Ключові слова: вимірювання температури
телевізійний пірометр
світлоелектричний перетворювач
моноспектральний сигнал
фотон
кремній
роздільна здатність
измерение температуры
телевизионный пирометр
світлоелектричний преобразователь
моноспектральный сигнал
фотон
кремний
разрешающая способность
measuring of temperature
televisional pyrometer
light-electric transformer
monospectral signal
photon
silicon
discriminability
Дата публікації: 2009
Видавництво: ІФНТУНГ
Бібліографічний опис: Біспектральний телевізійний прилад контролю високотемпературних технологій / М. О. Маркін, В. А. Порєв // Методи та прилади контролю якості. - 2009. - № 23. - С. 102-105.
Короткий огляд (реферат): Розглянуті методичні питання використання телевізійних засобів для вимірювання температури та особливості реалізації схем формування моноспектральних сигналів в мультиспектральних телевізійних пірометрах. Запропоноване нове технічне рішення біспектрального телевізійного пірометра, яке базується на використанні фізичної залежності пропускання фотонів в кремнії від довжини хвилі випромінення.
Рассмотрены методические вопросы использования телевизионных средств измерения температуры и особенности реализации схем формирования моноспектральных сигналов в мультиспектральных телевизионных пирометрах. Предложено новое техническое решение биспектрального телевизионного пирометра, базирующееся на использовании физической зависимости пропускания фотонов в кремнии от длины волны излучателя.
The article deals with methodic questions concerning the usage of television measurement devices and the specifics of the implementation of the narrowband signal formation in the multiband television pyrometers. New technical solution has been proposed for the two-band television pyrometer, which is based on using the physical relation between photonic translucency of silicon and the source wavelength.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/4239
ISSN: 1993-9981
Розташовується у зібраннях:Методи та прилади контролю якості - 2009 - №23

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
2193p.pdf447.25 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити
Показати повний опис матеріалу Перегляд статистики  Google Scholar


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.